x射线检验机XT V 130 c
用于电子工业
用于印刷电路板
对于半导体
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这种产品比较
特征
- 技术
- x射线
- 部门
- 用于电子工业
- 应用程序
- 用于印刷电路板和半导体
- 其他特征
- 测量,高分辨率
描述
XT V 130C是一种高度灵活和成本效益高的电子和半导体检测系统。该系统具有130 kV/10瓦尼康计量制造源，全球认可的开管设计与集成发电机，和高分辨率成像链。通过一系列工厂和现场升级，终端用户可以根据自己的需要配置这些系统，包括更高的电源、旋转样品托盘、自动检测软件、数字平板选项，以及添加防未来CT技术的能力。好处:专利30- 130kv微聚焦源，2μm特征识别True 72°机械手倾斜角度，可倾斜查看，便于内部特征的检查。520x520mm大测量面积直观的操纵杆导航驱动实时x射线成像双显示器，可组合测量和实时分析，拥有成本低安全性作为设计标准CT和X.Tract(层析成像)准备就绪
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