X射线探伤机XT H 225型
计算机断层扫描
测量
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特点
- 技术
- X射线，计算机断层扫描
- 其他特性
- 测量
说明
入门级XT H 160和多功能XT H 225系统提供微焦点X射线源、大检查体积、高图像分辨率，并可用于超快CT重建。它们的应用范围很广，包括塑料零件、小型铸件和复杂机构的检验，以及材料和自然样品的研究。优点专有225 kV微焦点X射线源，焦点尺寸为3µm，系统操作简单，拥有成本低，令人惊叹的图像提供了极大的洞察力高性能图像采集和体积处理直观的检查自动化安全第一
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