X射线检测系统C2.

X射线检测系统
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特征

技术
X射线

描述

C2平台是一种高精度,超大型信封模块化检查系统。计量级花岗岩基座为专利的超精密和稳定的7轴操纵器提供了基础。支持高达450 kV的双源提供必要的电力,以通过高密度部件渗透,并以微米精度产生无散射的CT卷。该系统具有平板检测器和专有的弯曲线性阵列(CLA)检测器,其优化X射线的集合而不捕获不期望的散射X射线。线性检测器通过避免图像污染和相关的对比减少,产生惊人的图像清晰度和对比度。C2是从小,低密度样品大小到大,高密度材料的零件检查的理想选择。采用专利超精密和稳定的机械手超大型检查包络安装到现有的辐射外壳或提供新的模块化辐射罩专利的微胶体X射线管技术,可提供225 kV,320 kV和450 kV支撑双X射线管支持双探测器大幅面16位检测器技术专用弯曲线性二极管阵列技术直观的软件接口高级3D可视化和分析可自定义宏自动化工作流程

目录

*价格是税前。它们排除了运费和关税,并不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅表明,可能因国家而异,改变原材料和汇率的成本。