X射线检测系统M2
二极管阵列

X射线检测系统
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特征

技术
X射线,二极管阵列

描述

M2系统是一个高精度的大型信封模块化检查系统。计量级花岗岩基座为专利的超精密和稳定的8轴机械手提供了基础。支持高达450 kV的双源提供必要的电力,以通过高密度部件渗透,并以微米精度产生无散射的CT卷。该系统可提供平板检测器和专有的弯曲线性二极管阵列(CLDA)检测器,其优化X射线的集合而不捕获不期望的散射X射线。线性检测器通过避免图像污染和相关的对比减少,产生惊人的图像清晰度和对比度。M2非常适用于检查大小的零件的零件,从小低密度样品到大,高密度材料。特点采用专利超精密且稳定的机械手专用X轴桥梁设计大型检查信封安装到现有的辐射外壳或提供新的模块化辐射外壳专利的X射线管技术。225 kV,320 kV,450 kV可用支撑双X射线管支持双探测器大幅面16位探测器技术专用弯曲线性二极管阵列技术直观的软件接口高级3D可视化和分析可自定义宏自动化工作流程应用涡轮刀片检测评估精密零件和大铸件,复杂机制和内部部件部分到CAD比较逆向工程详细故障分析

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MM系列
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*价格是税前。它们排除了运费和关税,并不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅表明,可能因国家而异,改变原材料和汇率的成本。