X射线探伤机XT H 225街

计算机断层扫描

XT H 225 ST是一种计算机断层扫描（CT）系统，非常适合各种材料和样品尺寸，特别是对于该范围内的其他系统来说太大或太重的材料和样品尺寸。该系统有三个可互换的来源；225千伏反射靶、180千伏透射靶和可选的225千伏旋转靶。结合广泛的平板探测器可供选择，ST系统为质量实验室、生产设施和研究部门提供了灵活的工具。优点：专有225 kV微焦点X射线源，焦点尺寸为3µm，易于系统操作，令人惊叹的图像提供最大的洞察力，高性能图像采集和体积处理，直观的检查自动化，设计安全，拥有成本低