半导体显微镜

徕卡DCM8旨在帮助您最大限度地提高效率，使得高清共聚焦显微镜与干涉测量仪中的优点集成到一个通用的双核系统中。由于一键选择，可以确保超快速分析，...

速度问题的检查，过程控制，或缺陷和失效分析的微电子和半导体行业。检测到缺陷的速度越快，您可以做出更快的反应。30％的观点与......

决议: 3, 15, 4 nm
放大：5单位 - 800,000个单位

SU3800和SU3900是高性能的热离子可变压力SEM。SU3900旨在在超大型标本室中研究大型，重或多个样品。SU3800 / SU3900非常适合于例如应用中的应用。......

决议：0.4,1.2,0.8 nm
放大：3,000,000单位

SU9000结合了场发射扫描电子显微镜(SEM)和低压扫描透射电子显微镜(STEM)在一个独特的仪器。高分辨率的SE, BSE, BF-STEM或DF-STEM结合高固体…

决议：0.102,0.078 nm
放大：20单位 - 8,000,000单位

HF5000是一个200 kV畸变校正的CFE TEM/STEM。它提供了一个强大的混合原子分辨率成像和分析与全面的自动化和先进的现场能力。

放大：25,30,15,20单位

．．．到3D实验室显微镜。这允许捕获的图像在数字的3D监视器上再次显示显微镜。还可以将保存图像与实时图像的比较是可能的......

决议: 0 nm - 100 nm

Bruker 's Dimension XR扫描探针显微镜(SPM)系统整合了数十年的研究和技术创新。与常规原子缺陷解决方案，和一系列独特的技术，包括…

决议: 1.3, 0.9 nm
放大: 10单位- 2,740,000单位

......整合SEM.成像和EDS分析。这种强大的功能提供了使用Fe-SEM获得的下一代可操作性和高分辨率图像。新的“zeromag”功能“zeromag”，为无缝过渡融入其中...

尼康的Eclipse偏振显微镜以能够产生更明亮、更清晰和对比度更高的图像而闻名。LV100N POL，可用于轻析和重析显微镜照明……

第一个专门的tem半导体Metrios系统是第一个专门提供快速、精确测量的TEM半导体制造商需要开发和控制……

...新的RF和传感器技术高达400 MHz，通过用户友好的图形界面控制。建造半导体行业标准围绕核心平台，利用最新生产和研究......