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EDX显微镜HF5000
计量
材料研究
材料分析
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这种产品比较
特征
- 类型
- EDX
- 技术的应用
- 计量学，用于材料研究和材料分析
- 观察技术
- BF-STEM DF-STEM,现场
- 配置
- 落地式
- 电子源
- 场致发射冷
- 镜头设计
- 像差校正器
- 探测器类型
- 二次电子
- 其他特征
- 高分辨率，半导体，纳米技术，全息，超高分辨率，高倍放大，全息
- 决议
-
0.078 nm, 0.102 nm
- 放大
-
马克斯。8000000单元
最小值。20单位
描述
HF5000是一个200 kV畸变校正的CFE TEM/STEM。它提供了一个强大的混合原子分辨率成像和分析与全面的自动化和先进的现场能力。
0/10的必威体育app官方下载乘积比较