扫描探针显微镜维度Xr.

研究 测量 纳米镜

维度XR Bruker的维度XR扫描探头显微镜（SPM）系统合并数十年的研究和技术创新。通过常规原子缺陷分辨率，以及一系列独特的技术，包括PeailforceTapping®，Datacube模式，SECM和AFM-NDMA，它们提供了最大的性能和能力。SPMS尺寸XR系列将这些技术包装成交钥匙解决方案，以解决纳米机械，纳米电和电化学应用。在空气，流体，电气或化学反应性环境中的材料和活性纳米级系统的定量从未如此容易。高光谱纳米电子表征包括用于表征功能材料，半导体和能源研究的最完整的电气AFM技术阵列。亚100nm电化学成像提供了最高分辨率，用于与电池，燃料电池和腐蚀相关的局部电化学活动的定量分析的总溶液。开箱即用的纳米机械分析提供完全定量的，交钥匙套件，用于相关结构和材料的纳米力学性质。为高级研究XR纳米力学XR纳米机械提供了最高性能优化配置的首次性能优化配置，提供一系列模式，以综合检测到具有空间分辨率的最小结构，下降到聚合物链的子分子单元。研究人员使用我们的专有AFM-NDMA™模式将纳米力学数据与批量DMA和纳米型方式相关联。