扫描电子显微镜JSM-F100

用于分析 高分辨率 用于半导体

JSM-F100 Schottky场发射扫描电子显微镜JSM-F100不仅包含我们备受推崇的In Lens Schottky Plus场发射电子枪和“ Neo Engine”（电子光控制系统），还包括一个新的GUI“ SEM中心”和创新的“ Live-ai（实时图像视觉增强器 - 人工智能）过滤器”。这使得高空间分辨率成像和高操作性的最佳组合。此外，JSM-F100带有JEOL能量分散X射线光谱仪（EDS），该光谱仪已完全集成在“ SEM中心”中，以从图像到元素分析结果无缝获取。受用户追求高性能和可操作性的进化和集成的启发，JSM-F100实现了出色的工作效率，比我们以前的JSM-7000系列效率高出50％或高出50％或高，从而大大增加了高吞吐量的功能。“ SEM中心”的新功能用于整合EDS新开发的GUI“ SEM中心”完全集成了SEM成像和EDS分析。这种强大的功能提供了下一代可操作性和使用FE-SEM获得的高分辨率图像。新的“ Zeromag”函数“ Zeromag”，用于从光学到SEM成像的无缝过渡，使得易于定位目标样品区域。使用AI（人工智能）功能的新的Live-Ai滤波器 *选项，将Live-AI过滤器合并为更高质量的实时图像。与图像集成处理不同，该新过滤器可以显示无缝移动的实时图像，而无需残留图像。 This unique feature is very effective for quickly searching observation areas, focusing, and stigmator adjustment.