光学表面光度仪ZeGage™职业

3 d 白光干涉法 干涉测量法

ZeGage Pro光学轮廓仪扩展了ZeGage轮廓仪的功能，具有更高的精度，更快的测量速度，并增加了可测量表面的范围-同时保持其易用性，振动不敏感，占地面积小。ZeGage Pro profiler可以测量更广泛的表面-从非常粗糙到超光滑，亚纳米精度，独立于视场。表面处理可以包括研磨、珩磨、研磨、抛光和超抛光等材料，如玻璃、陶瓷和金属。对于高速的形式测量，ZeGage Pro扫描速度高达ZeGage的两倍，提供更快的时间数据和增加的生产计量吞吐量。与ZeGage profiler一样，交互式控制软件Mx™提供了简单和详细的可视化，帮助您控制您的过程。阅读更多内容，看看ZeGage Plus profiler的功能、多功能性和价值如何使你受益。•专有的非接触测量技术对振动的灵敏度较低，在大多数应用中不需要隔振平台。•与标准ZeGage相比，表面形貌可重复性提高20倍以上。•垂直扫描速度比标准ZeGage快两倍。•测量几乎所有表面，从粗糙到超光滑。 • Vibration-resistant, for production floor metrology and process control. • Correlates to 2D and 3D standards, and complies with ISO 25178 surface roughness parameters. • Quantitative surface metrology with sub-nanometer precision provides superior gage capability.