光学表面光度仪Nexview™NX2

3 d 干涉 白光干涉法

Nexview 3D光学表面轮廓仪擅长测量所有表面-从超光滑到非常粗糙，亚纳米精度，独立于视场。测量类型包括平面度、粗糙度、大步骤和段,薄膜,和陡峭的斜坡,功能高度从< 1 nm 20000µm。•适用于所有类型的表面，从粗糙到超光滑，包括薄膜、陡坡和大台阶。•测量能力强大的性能-为最苛刻的生产应用提供卓越的精度和重复性。•ISO 25178表面测量参数您不再需要根据您想要测量的表面类型选择分析器。Nexview profiler几乎可以测量任何表面的形貌，从亚埃表面粗糙度的超抛光光学表面，到高达85度的陡峭加工角度。Nexview profiler采用全新的Mx™软件，支持完整的系统控制和数据分析，包括丰富的交互式3D地图、定量地形信息、直观的测量导航，以及内置的SPC统计、控制图表和通过/失败限制。•交互式3D绘图-缩放，平移，旋转，并实时更新结果。•灵活的分析-广泛的定量结果，数据视图，过滤器包括在内。 Additional application modules for specific needs, such as measurement in the presence of transparent films, and 2D vision analysis, are available for customers that require these capabilities.