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示差折光检测器PVI-4TE-3
半导体
动态
半球形
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这种产品比较
特征
- 检测到实体
- 折射率
- 技术
- 半导体、动态、半球形,IR
- 其他特征
- 紧凑、坚固,thermoelectrically-cooled
描述
2.2 - 3.1µm,四级热电的冷却,光沉浸PVI-4TE-3四级热电的冷却红外线光电探测器是基于复杂的HgCdTe异质结构最好的性能和稳定性,光沉浸在以提高设备的参数。探测器是最大的性能优化μmλopt = 3.0。削减-波长可以优化的要求。反向偏压Vb可能显著提高响应速度和动态范围。它还导致改进的性能在高频段,但1 / f噪声出现在偏置设备在低频率可能会降低性能。3°楔形蓝宝石(wAl2O3)窗口阻止不必要的干扰效果。特点:-高性能在2.2 - 3.1µm光谱范围-四级热电的冷却Hyperhemiimmersion显微镜头技术应用——不需要偏见——没有1 / f噪声参数:PVI-4TE-3材料:特定类型:光伏浸:浸冷却:四级波长/λopt /µm: 3包:亚马孙河,TO66窗口:楔形氧化铝探测能力/ D∗/厘米⋅Hz1/2⋅W−1:≥8.0 x1011时间常数τ/ ns:≤280
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