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折射率检测器PVI-4TE-4
半导体 动态 半球形

折射率检测器
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特征

检测到实体
折射率
技术
半导体,动态,半球形,红外
其他特征
紧凑,坚固,热电冷却

描述

2.2 - 4.2µm,四级热电冷却,光浸式PVI-4TE-4是基于复杂的HgCdTe异质结构的四级热电冷却红外光伏探测器,为了获得最佳的性能和稳定性,光浸式以改善器件的参数。该探测器在λopt = 4.0 μm时性能最佳。切割波长可根据要求进行优化。反向偏置Vb可显著提高响应速度和动态范围。它还可以提高高频性能,但偏置器件中出现的1/f噪声可能会降低低频性能。3°楔形蓝宝石(wAl2O3)窗口防止不必要的干扰效应。特性:- 2.2 - 4.2 μ m光谱范围内的高性能-四级热电冷却-应用超半浸微透镜技术-无偏置-无1/f噪声参数:PVI-4TE-4材料:MCT类型:光伏浸没:浸没冷却:四级波长/ λopt/µm: 4封装:TO8, TO66窗口:楔形Al2O3探测器/ D∗/ cm⋅Hz1/2⋅W−1:≥4.0 × 1011时间常数/ τ/ ns:≤100

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*价格为税前价格。它们不包括运费和关税,也不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅为指示性,可能因原材料成本和汇率的变化而因国家而异。