折射率检测器PVI-2TE-6
半导体
动态的
半球形
添加到收藏夹
比较此产品
特征
- 检测到的实体
- 折射率
- 技术
- 半导体，动态，半球，IR
- 其他特征
- 紧凑，坚固，波长，热冷却
描述
2.9 - 6.6 µm，两阶段的热电冷却，光学浸入的PVI-2TE-6是基于精致的HGCDTE异质结构的两阶段热电学冷却IR光伏检测器，可提供最佳性能和稳定性，可通过光学地浸入设备参数。对检测器的最大性能在λOPT=6.0μm处进行了优化。可以根据要求优化切割波长。反向偏置VB可能会显着提高响应速度和动态范围。这也导致高频下的性能提高，但是在偏置设备中出现的1/F噪声可能会降低低频下的性能。3°楔形锌硒化抗反射涂层（WZNSEAR）窗口可防止不必要的干扰效果。功能： - 2.9-6.6 µm光谱范围中的高性能 - 两阶段热电学冷却 - 超级膜剂微芯技术应用 - 不需要偏置 - 否1/f 1/f噪声参数：PVI -2TE -6材料：MCT类型：MCT类型：光伏感：沉浸感：沉浸感：沉浸感：浸入冷却：两阶段波长/λopt/ µm：6包：TO8，TO66窗口：楔形AL2O3检测率/ d ∗/ cm·hz1/ 2·W − 1：≥2,0x10101010时间常数/τ/ ns：≤50
目录
Vigo目录2020/2021
147
页面
