为了帮助您最大限度地提高效率,徕卡DCM8结合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉计量学的优点,成为一个通用的双核系统。一键式模式选择、复杂的软件和无需移动部件的高清共聚焦扫描确保了超快的分析。无论您是在生产或研究工作,徕卡DCM8提供准确的,可重复的计量分析结果,您需要优化材料性能。你的地面有陡峭的斜坡或复杂的形状吗?使用高清共聚焦显微镜实现高达2纳米的垂直分辨率。你的表面是否光滑,有微峰和微谷?有三种干涉模式可供选择:垂直扫描干涉(VSI),相移干涉(PSI)或扩展PSI (ePSI),分辨率可达0.1 nm。而且,如果你需要一张快速、明亮的高清2D图像,徕卡DCM8还提供亮场和暗场模式。无论您是在生产或研究工作,徕卡DCM8提供准确的,可重复的计量分析结果,您需要优化材料性能。你的地面有陡峭的斜坡或复杂的形状吗? Achieve vertical resolution up to 2 nm withHD confocal microscopy. Is your surface smooth with micro peaks and valleys? Choose from three interferometry modes: Vertical Scanning Interferometry (VSI), Phase Shift Interferometry(PSI) or extended PSI (ePSI) for resolution of up to 0.1 nm. And, if you need a quick, brilliant HD 2D image, the Leica DCM8 offers brightfield and darkfield modes.