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TEM显微镜JEM-ARM300F2
实验室 落地式 高分辨率

TEM显微镜
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特征

类型
TEM
技术的应用
实验室
配置
落地式
其他特征
高分辨率、超高分辨率
决议

最小值。0.053纳米

马克斯。170,000 nm(0.007英寸)

描述

一个新的原子分辨率电子显微镜已经发布了!“GRAND ARM™2”已经升级。这种新的“GRAND ARM™2”能够在大范围的加速电压下进行超高空间分辨率的观测,并进行高度敏感的分析。FHP2新研制的物镜极片FHP物镜极片是为超高空间分辨率观测而优化的。在保持这种能力的同时,极片的形状进一步优化了x射线立体角和大尺寸双SDDs (158 mm2)起飞角。因此,FHP2的有效x射线探测效率是FHP的两倍以上。它可以在EDS元素图中提供亚埃分辨率。TEM柱采用箱式外壳覆盖,减少了温度、气流、噪声等环境变化的影响,提高了显微镜的稳定性。JEOL COSMO™使用从任何非晶区域获得的2个Ronchigrams来测量和纠正像差。因此,该系统可以提供快速和准确的像差校正不需要专门的样品。 Improvement of stability New CFEG (Cold Field Emission electron Gun) adopted a smaller SIP with a larger evacuation volume than before for GRAND ARM™2. Enhancement of evacuation volume of SIP improves the degree of vacuum near the emitter inside CFEG, and also improves the stability of emission and probe currents. The miniaturization of SIP can reduce the total mass of CFEG by ~100 kg.

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JEM-ARM300F2
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*价格是税前。它们不包括运费和关税,也不包括安装或激活选项的额外费用。价格只是指示性的,可能因国家而异,原材料成本和汇率会有所变化。