荧光光谱仪杰德系列

而已 过程 高速

JED-2300分析站Plus是一种通过检测样品产生的特征x射线来进行元素分析的EDS系统，它是基于“从观察到分析无缝”的设计理念开发的，采用了JEOL在电子光学和EDS方面多年的经验。该EDS系统完全集成了我们的sem, fib - sem和tem，以实现全面的数据管理(显微镜图像和x射线数据)，具有易于理解的用户界面。对于配备电机驱动工作台的FIB-SEM系统，通过可视化操作，如不同放大倍数或不同工作台位置的显微镜图像，以及元素图的位置，可以方便地管理大区域的数据。创新设计操作要点图标从左到右排列，引导用户完成数据收集的每一步。此外，每个图标的功能都显示出来，便于直观理解。索引图像显示操作员可以快速地从索引图像显示中获取数据。♦分析数据列表图像和分析结果自动保存在同一个文件夹中，便于快速访问。当操作人员在索引图像显示中选择任意区域时，对应区域的数据将显示在分析数据列表中，从而简化了数据管理。Visual Peak ID用于确认定性分析结果中各组成元素是否被正确识别。根据定性分析中确定的元素的x射线强度，通过计算重建光谱。