光谱椭圆计UVISEL Plus / UVISEL Plus原位

全新的UVISEL PLUS椭偏仪包含了最新的采集技术，旨在更快、更准确地测量薄膜样品。基于一种新的电子数据处理和高速单色仪，新的FastAcq技术能够在3分钟内完成从190到2100nm的高分辨率样品测量。沿着测量范围不断调整光谱分辨率的可能性使扫描样品更智能和更快。为增强薄膜测量的灵活性而设计的UVISEL Plus可为50µm以下的样品提供微点，从40到90°的可变角度，自动水平测绘平台和各种附件，使其可伸缩，以满足您的所有应用和预算需求。易于升级是UVISEL Plus的一个特点，以满足您未来正在进行的苛刻的应用程序。UVISEL Plus采用最先进的DeltaPsi2软件平台，以及具有直观工作流的Auto-Soft界面，以加速数据收集和分析，UVISEL Plus允许从新手到专家的用户以最高的精度和灵敏度执行薄膜测量。UVISEL Plus被认为是最终材料科学的参考椭偏仪。