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Sistema deMediçãodeSpessuraNEXIV VMZ-K6555
de Geometria dediâmetro. deposição.

Sistema deMediçãodeSpessura
Sistema deMediçãodeSpessura
瓜尔省NOS收藏
比
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características.

Grandezafísica
De Espessura，De Geometria，DePosição，DePosição，Angular，DeDistância，De Forma，De Coordenadas，De Alinhamento，De Unileza，De Rugosidade，DeNível，de Contorno
Tecnologia.
óptico，激光，3d，devídeo，视觉，共用
生产咖啡豆咖啡
De Tubos，Para Perfis，DePeaças，PCI，De Banda，De Arame，PourMediçãoDoDiâ上室内装饰品，Para WaferNãoGrawado，De Vidro，Fita，DeSólidos，ParaFilmePlástico，Para晶片，Para Circuitos Integrados，De Ferramens
aplicações.
Para Controle，Para Linha de Producee，ParaAlticaçõesFerroviárias，ParaAletricaçõesCosméticas，Para Baterias deíon-lítio，Para-Bateriasfiefiro，Para Linha deProduçãodefitas，ParaCalibração.
outrascaracterísticas
SEM CONTATO，Automático，维拉塔，奥塔尔·斯图科，CNC，De Alta Velocidade，Autónomo，垂直，耳廓，Geométrico，Não-Drattutivo，Com Campo deVisãozolo，Profilômentro，Procolo-Alta

Descrição.

尼康共焦Nexiv VMZ-K6555 FOI Desenvolvida Com基地NAS Tecnologias Opto-Mecatrónicas（ó普拉斯，MECânicase电器）Lídesdanikon。Ele Incoration Uma VariedadedeópticaCococalParaAvaliaçãoRápidaEFICOFícieTridimensionyFina，Tecnologia de Processamento De Imagem E FocoAutomáticode激光TT L. PermiteMedições2De de Altura No Mesmo Campo deVisão。o Confocal Nexiv VMZ-K6555ÉUSADOPara aInspeçãoeMediçãodevifyhesCríticasde Estruturas Altamentas em Discositivos SemicondutoresAvançados，Placas de Sonda，Padrõesde Substrato Em Placas de Circuito，Mems E uma veriedade de OutrasAplicações的exigentes。Befficecios chavemedição同时羚羊羚羊大蒜ampl ampl amplacomópticaconfocalproprietáriada nikonmedição2dcomzoomópticode campo brilhante de 15x overmentecompatívelcom amediçãode wafer de 300 mm emfábricasde semicondores manipula tamanhos de placas de circumeo de sups de circumeo de sups de circumeo de supmula com su curso de650 x 550 mm

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dediâmetro. de Espessura. de Geometria
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deposição. de Espessura. De Trincas.
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de Espessura. dediâmetro. De Trincas.
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dediâmetro. de Espessura. de Geometria
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德艾琳 dediâmetro. deposição.
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棱角 de Espessura. dediâmetro.
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