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Microscopio对位注意NaniteAFM
para medição da rugosidade de superfícies para medição de 3 eixos para inspeção de superfícies

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Caracteristicas

Aplicacoes tecnicas
对位中,对位medicao哒rugosidade de表面对位medicao de 3 eixos对位inspecao de表面对位inspecao de算法,para inspecao de材料de medicao对位inspecao,工业、de metrologia对位linha de producao
蒂波
de举国淡出
Configuracao
compacto
Outras caracteristicas
automático, de alta resolução, com platina deslizante, para inspeção de wafers em linha, para amostras polidas, para wafer, de alta precisão, para amostras de grandes dimensões, para topografia
Resolucao espacial

分钟:5µm

马克斯:110µm

Descricao

我们的网址是integração personalizada Compacto Robusto Fácil morfologia da superfície é uma proprietary ade important para muitas superfícies de alta technologia com características que podem ir até alguns nanómetros e rugosidade da superfície abaixo do nanómetro。Com o AFM,你会发现你有一个共同的爱好condições ambientai。有一件衣服,网址是são limitados no tipo e tamanho das amostas que podem可操作。O nanitafm da Nanosurf é a solução líder de mercado para integração de AFM com menor restrição às dimensões da amostra。O纳米afm tem扫描仪的ponta, duas câmaras de vídeo de inspeção e um motor de aproximação a bordo em uma área excepcionalmente pequena。Ele contém tudo o que é necessário para operar independente, abrindo caminho para uma fácil integração: tudo que você precisa é de 300 cm3 no espaço e um local de encaixe estável para montar o AFM。

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