Microscópio de força atômicaNaioAFM
de medicao
Para medição da rugosidade de superfícies
didatico
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Caracteristicas
- 蒂波
- força atômica
- Aplicacoes tecnicas
- De medição, para medição da rugosidade De superfícies, para didático De superfícies
- Configuracao
- Compacto, de bancada, portátil
- Outras caracteristicas
- Com câmera digital, de alta resolução, de fácil instalação
- Resolucao espacial
-
分钟:14µm
马克斯:70µm
Descricao
O AFM líder em nanoeducação Compacto e robusto Fácil de usar Valor real do dinheiro O NaioAFM é O microscópio de força atômica理想para nanoeducação e pesquisa básica em pequenas amostras。Este sistema AFM tudo-em-um比例，比例和方法sólido e um manuseamento fácil, com uma礼仪preço e dimensões que se adaptam a qualquer pessoa e ququer lugar。
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* Os preços não包括impostos，运输，taxas alfandegárias, nem customs adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço。Os preços são meramente indicativos e podem variable em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio。