光光谱仪NANOHUNTER二世

全反射x射线荧光 进行分析 自动

新一代的Rigaku NANOHUNTER II台式全反射x射线荧光(TXRF)光谱仪能够对液体进行高灵敏度的超痕量元素分析，精确到十亿分之几(ppb)浓度。全反射x射线荧光光谱法是一种用x射线入射束擦过样品，对超痕量元素进行低背景噪声、高灵敏度测量的方法。TXRF在微量元素环境中的应用由于越来越严格的环境法规，现在需要一种更简单的方法来对工厂废液和废水流进行元素分析，甚至达到ppb水平。使用NANOHUNTER™II光谱仪，即使是非常小的样品尺寸，也可以进行ppb水平的分析，只需向样品载体中加入一滴液体，将其干燥，然后进行测量。使用内标物质进行定量分析也很容易。台式TXRF分析仪与600 W x射线管powerRigaku NANOHUNTER II TXRF分析仪结合了全自动光轴调整系统，在易于操作的台式形式因子中提供稳定的高灵敏度分析，允许快速和无故障操作。NANOHUNTER II TXRF光谱仪配备了一个高功率600 W x射线源，一个新开发的镜面(光学)和一个大面积硅漂移探测器(SDD)，具有16位自动取样器，利用快速测量时间的高通量。