荧光光谱仪Nex de与

EDXRF. 处理 检查

Nex De VS高性能小（可标样）点Benchtop EDXRF元素分析仪，新的Rigaku Nex De VS可提供宽松的基于Windows®的Quantez软件。小点分析，从钠（Na）通过铀（U），几乎任何基质 - 从固体，薄膜和合金到粉末，液体和浆料。XRF元素分析在现场，植物或实验室特别设计和设计用于重型工业用途，无论是在厂房还是在远程现场环境中，卓越的分析力，灵活性和易用性的NEX DE增加了它的广泛呼吁扩大申请范围，包括勘探，研究，散装RoHS检验和教育，以及工业和生产监测应用。无论是需要是基本质量控制（QC）还是其更复杂的变体 - 如分析质量控制（AQC），质量保证（QA）或统计过程控制等六西格玛 - NEX DE是常规元素的可靠高性能选择XRF分析。具有60kV X射线管和SDD检测器的XRF 60kV X射线管和珀耳帖冷却快速SDD®硅漂移探测器提供出色的短期可重复性和具有优异元素峰值分辨率的长期重复性。该高压能力（60 kV）以及高发射电流和多个自动X射线管滤波器提供了广泛的XRF应用多功能性和低限制（LOD）。