x射线显微镜SEM-Raman

进行分析 现场 台式

SEM-Raman在单一系统中提供了全面的原位样品特征。通过结合这两种技术重新定义便利性、效率和生产力。Renishaw的结构和化学分析(SCA)接口为扫描电子显微镜(SEM)带来了inVia™拉曼显微镜点测量和绘图功能。inVia显微镜和SCA接口提供了一种基于扫描电镜的分析技术，既补充了基于光学显微镜的拉曼光谱，又克服了传统的基于扫描电镜的能量色散x射线光谱(EDS)分析技术的局限性。使用雷尼肖的SEM-Raman系统，您将受益于形态学、元素、化学、物理和电子分析。使用扫描电子显微镜(SEM)生成高分辨率的样品图像，并进行元素分析。增加拉曼的功率，获得化学信息和图像。识别材料和非金属，即使它们具有相同的化学计量。SCA和inVia不仅完全兼容拉曼光谱，而且还兼容光致发光(PL)和阴极发光(CL)光谱。冲积层x射线分析冲积层x射线分析联合系统共定位分析联合系统可为您节省宝贵的时间。 You do not have to move your samples between two instruments and risk analysing the wrong sample region. Both the inVia microscope and SEM can be operated as stand-alone systems, at the same time, without compromising the performance of either. You have a Raman system, a SEM system and a combined Raman-SEM system.