AFM显微镜alphacen 300.

工业的 自动化

重型和大型样品的尖端扫描AFM高达300毫米•标准AFM系统•300 mm x 300 mm样本阶段•最高可达45公斤纳米水的适用是用于大型和重型样本的定制系统的市场领导者。在过去几年，我们的团队建立了一个大量知识库，为各客户开发这些自定义阶段。利用这一广泛的知识，我们现在已经开发了一个标准产品，适用于高达45公斤的300毫米或重质样品的大型样品。与自定义系统相比，Alphacen 300降低了价格和交货时间。运行自动测量系列Alphacen 300包括强大的自动化软件，允许用户预先选择感兴趣的位置，无论是在光学图像还是舞台上，都会收集没有用户干预的图像。重型玻璃样品大多数大样本AFM能够处理高达200毫米的平面样本，通常朝向半导体晶片的分析。然而，这些系统的一个局限性是它们可以处理的样本重量。Alphacen 300解决了能够成像大型和重型样品的标准AFM的需求，其重量限制可达45千克。50mm的Z级行程还允许对不是薄硅晶片的样品进行成像。大型重质样本在光学行业中是相当普遍的，例如， in the production of large lenses and semiconductor industry, e.g. assembled cassettes or completed products.