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测量显微镜NaioAFM
表面粗糙度 教育 表面检查

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这种产品比较

特征

技术的应用
测量,表面粗糙度,教育,用于表面检查
类型
原子力
人体工程学
台式、紧凑、便携
其他特征
数码相机,高分辨率,安装简单
决议

最小值。14µm

马克斯。70µm

描述

NaioAFM是用于纳米教育和小样品基础研究的理想原子力显微镜。这一多功能一体机AFM系统提供了坚实的性能和易于处理,价格标签和足迹,适合任何人和任何地方。

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*价格是税前。它们不包括运费和关税,不包括安装或激活选项的额外费用。价格只是指示性的,并可能因原材料成本和汇率的变化而因国家而异。