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SEM显微镜Phenom Prox.
分析 测量 高分辨率

SEM显微镜
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特征

类型
SEM.
技术应用
用于分析,测量
其他特征
高分辨率
放大

分钟:80个单位

最大限度。:130,000个单位

描述

Phenom Prox。高分辨率成像和分析的顶部范围是Phenom Prox Desktop SEM是最终的一体化成像和EDS分析系统。通过使用完全集成的元件识别软件和专门设计的EDS检测器,先进的系统识别样本中的不同元素。可选的元素映射和线路扫描软件提供有关样本内的元素的分布或所选行的信息。分析结果可以很容易地出口和报告。Phenom Prox - 完全集成的X射线分析 - 元素检测范围:B - AM - 放大范围:80 - 130,000× - 分辨率:≤10nm - 加速电压:5 kV,10 kV和15 kV - 标准prosuite应用软件安装 -可选:元素映射和线路扫描软件应用程序

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产品展示

*价格是税前。它们排除了运费和关税,并不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅表明,可能因国家而异,改变原材料和汇率的成本。