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X射线探测器vortex®-60ex.
硅漂移

X射线探测器
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特征

检测到的实体
X射线
技术
硅漂移

描述

一般说明 - Vortex®-60exvortex®-60ex硅漂移X射线检测器具有30mm2和80 mm2之间的有源区域。Vortex®-60ex检测器采用高纯度硅生产,使用最先进的CMOS生产技术。它们具有优异的能量分辨率(MnKα的<130eV FWHM是典型的)和高计数率能力。在0.1μs的非常短的峰值时间下,实现了900 kCP的输出计数率。这些探测器的独特特征是它们能够在能量分辨率和最小峰值与计数速率下使用非常小的计数速率处理高计数率。典型的应用X射线荧光(XRF)光谱均散装和微荧光微XRF(近期可用的额外尺寸)X射线衍射(XRD)部分诱导X射线发射(PIXE)全反射X射线荧光(TXRF)同步辐射应用过程控制
*价格是税前。它们排除了运费和关税,并不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅表明,可能因国家而异,改变原材料和汇率的成本。