x射线平板探测器FT9400系列
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x射线平板探测器
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FT9400系列是一款高性能测厚仪,具有75 W大功率x射线管和双探测器(半导体探测器和比例计数器),可满足所有涂层厚度测量需求,包括薄膜、合金薄膜和亚微观测量。还可用于外来物质的定性分析和元素分析,以及涂层厚度的测量。

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*价格是税前。它们不包括运费和关税,也不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅为指示性价格,因原材料成本和汇率的变化而因国家而异。