光学表面光度仪contourx - 100

3 d 白光干涉法 台式

ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格，为精确和可重复的非接触面计量设定了新的基准。该系统占地面积小，集成了Bruker公司数十年的白光干涉测量技术(WLI)，在一个流线型的封装中提供了毫不妥协的2D/3D高分辨率测量能力。下一代的增强功能包括新的500万像素摄像头和更大的拼接能力的更新阶段，以及新的测量模式，USI，为精密加工表面，厚膜和摩擦学应用提供更大的便利和灵活性。你找不到比ContourX-100更有价值的台式系统了。行业最佳Z分辨率提供恒定的，精确的测量，独立的放大。无与伦比的计量值提供流线型设计，不损害测量功能。用户友好的软件界面提供直观的访问一个广泛的库的预编程过滤器和分析。ContourX-100轮廓仪是40多年来在非接触面计量、表征和成像领域的专利光学创新和行业领导的顶峰。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多次分析。ContourX-100的反射率在0.05%到100%的所有表面情况下都很稳定。 Unmatched Value and Analysis With thousands of customized analyses and Bruker’s simple and powerful VisionXpress™ and Vision64® user interfaces, the ContourX-100 benchtop is optimized for productivity in both labs and on factory floors.