新型双线性阵列探头的设计是为了改善内部腐蚀部件的检查,如管道、罐和板。新型双线性阵列探头与传统的超声双元件换能器相比,为探伤器提供了一些优势。这种相控阵解决方案通过更大的波束覆盖、更快的扫描速度和增加数据点密度的c扫描成像等特性提高了生产率。
与标准的相控阵脉冲回波相比,这种新型探头所使用的截距捕捉技术在腐蚀测量应用中提供了更好的近地表分辨率和坑检测,提高了探测临界壁薄变的概率。其紧凑,轻型铝外壳提供容易的处理和操作,而硬质合金耐磨板保护楔形增加耐久性。
双线性阵列探头为现有的Olympus HydroFORM®和RexoFORM腐蚀解决方案增加了新的低成本入门级检测能力,特别是与OmniScan®SX结合使用时。当与OmniScan相控阵仪器一起使用探头时,设置和操作简单:加载设置文件,检查校准,然后检查和记录数据。
http://www.olympus-ims.com/en/dual-linear-array-probe.