ROHS检测简化
设计在生产设施中扮演关键角色，这一最新的危险物质分析仪已经开发，以满足最新的指令。EA1400台式XRF分析仪采用卓越的检测技术，结合创新的x射线光学设计用于快速筛选RoHS物质。EA1400帮助客户进行所需的筛选，以加快和简化生产环境中的RoHS测试，并允许客户在指令随时间变化时更新物质控制标准。
新的硅漂移探测器(SDD)设计提高了RoHS物质的准确性和分析速度，如镉和铅。一种新的优化的x射线照射方法，使不均匀和不规则表面的分析更具可重复性。此外，高性能的探测器提高计数率，提高了微量元素的精度，给予较轻元素优越的测量能力。为了确保最大的生产率，筛选黄铜中的镉——通常是XRF RoHS筛选中最具挑战性的方面——被设计得比传统模型更快，允许更高的吞吐量。
该软件具有内置的功能，可视地标记超出预先设置的集中限制的定义元素。使用精密控制软件，EA1400会满足定义参数后自动停止分析。通过/失败确定可以在定义的测量时间之前进行。当需要测量多个样本时，这会增加吞吐量，从而节省时间而不影响您的质量计划。
除了RoHS筛选，EA1400还具有区分矿渣(Si, Ca, Al和Mg)、聚合物、矿物、化学品和其他材料的主要成分的能力。
Hitachi高科技分析科学的产品经理Ashley-Kate McCann表示，“我们的客户要求我们帮助我们每种样品减少测量时间，简化测量结果的管理，降低运营错误并提高效率。EA1400提供此虽然也实现了卓越的检测限，但为RoHS和其他受限制的材料指令提供了筛选工具，因为它们在今天存在并继续发展。“
