microscópiosbruker.
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... quevocêapoveite aomáximo作为vastas possibilidades oferecidas pela微观镜头FT-IR O软件Opus IR的IRERECEAssistênciasemper quevocêprecisar e ermite quevocêdeslizeSEM.EsforçoPelaMedição,...
Bruker光学器件
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Bruker光学器件
microscópio.拉曼Compacto Senterra II O Senterra II Define Um Novo NovoNívelde desempenhoEspectroscópicoe Facilidade deUterizaçãonaclasse demicroscópios.Compactos拉曼。o senterra ii foi concebido ...
Bruker光学器件
hyperionéoauge de mais de 30 anos desuredyência微观镜头FT-IR。SEU设计DE ALTA Qualidade,Chantuindo Todos OS组件ó普罗斯,MECânicoseEletrônicosGarantemAlta Estabilidade E Confiabilidade。com ...
Bruker光学器件
... Projetado de Cima Para Baixo Para Oferecer ARevolucionáriaBaixaeriva e baixoruídoque ermite aosusuários腹腔图像SEM.Artefatos Em Minutos,Em Vez de Horas。Mais Alto Desempenho Scanner de Pontas fornece ...
布鲁克纳米表面
ResoluçãoEspacial.:300 nm - 600 nm
Ampliação.:8单位 - 30个单位
... Posicionamento de Amostra Supensa Instalada Na Placa SuperioSmicroscópio.Torna-o overmentecompatívelcom aVersãodemostraviva做Muvi Spim。ooctógonopode ser facilmente removido做microscópio.......
布鲁克纳米表面
... PM设计LUX数据 - UMASOLUÇÃOBrabangentede Processamente e Armazenamento de Dados ImagensBiológicasde Ponta,Como微观镜头De Luz,MasTambém超级resoluçãoouimagens de doisfotões,geram uma vasta variandade ...
布鲁克纳米表面
ResoluçãoEspacial.:255纳米
Ampliação.:31单元 - 63个单位
......Treliçasópticas。ousuáriopode selecionar a partir de uma扩增escolha de formas de Feixe para melhorar adescuçãomicroscópio.e Reduzir A Foto-Danos Em Amostras Delicadas。Umaóptica特价28,6x 0,7 Na de ...
布鲁克纳米表面
ResoluçãoEspacial.:340 nm.
Ampliação.:40单位
...Fácildusarsoftware e硬件todas作为funções做microscópio.SãoControladasPORUM SoftwareFácildeUSAR。A Montagem Das Amostras e acomutaçãodeamostrasaovivo para amostraslimpaséfeitaSEM.......
布鲁克纳米表面
ResoluçãoEspacial.:255纳米
Ampliação.:31单元 - 63个单位
... Amostras Em UmaStoreRênciaComAtéSeisCondições实验室差异。设计Compacto,Robusto ESEM.VibraçõesO设计Compacto,Robusto ESEM.vibrações做trulive3d成像仪proporciona amáxima...
布鲁克纳米表面
... variedade e flexibilidade para atemeràsstementadesseamíficasde metrologia deFabricaçãoem uma ampla gama de amostras,SEM.一个复杂的IrmentmenteAssociaDaàsciguaraçõesdepesquisaafm。快纳电...
布鲁克纳米表面
... Interferometria de Luz Branca(WLI)ProprietáriaDaburuker,SEM.作为limitaçõesdos.microscópios.Confocais Convencencionais E DOS PerfisópricosPadrãodaConcorrência。Melhor Metrologia da Classe,SEM.......
布鲁克纳米表面
... 500光学Profileometeréo Sistema de Bancada Automatizado Mais Completo Do Mundo Para Metrologia deSuperfície3DrápidaeSEM.contato。o Contourx-500,Compopydade deMediçãoPorMordaça,Contui UmaResoluçãoe ...
布鲁克纳米表面
......解决方法Emato of Todo O Campo,Oqueésilencialpara que OS Investigadores Possam Continuar O Seu TrabalhoSEM.Alterar OS Desenhos实验。Imagem Profunda de Alta Sensibilidade O Caminho de Coleta ...
布鲁克纳米表面
......微观镜头De Raios X 3D De Alta Pocivedade O Skyscan1273É0MaisReseteemicroscópio.De Raios X 3D de Bancada Da Bruker,Baseado Na Tecnologia de Tomografia Micrococputada(Micro-CT)。Amostras com ...
o que podemos melhorar?
Poderia Especificar?
Ajude-nos a melhorar oserviçoque lhe prestamos:
restantes.