Espectrômetroedxrf.X-Cite.

Para aIndústriameterúrgica Compacto. de bancada

EspecificaçõesdeSistema：Análiseultharnãodestrutiva C（6）-fm（100）de ppm a 100％deconcentração。Seis filtrosperserfizáveispara adisclueinaçãorápidae precisa detraçoseurementos menores。DescuçãodeAté125ev。设计Robusto，Geometria Compacta。Bandeja de Amostras Com 8/16Posições。Fácildoperargraçasao pacote de Softwareproprietárionext™。oEspectrômontroX-Cite能量分散X射线荧光（EDXRF）Da Xenemetrix Oferece ASoluçãodePreaç/ Desempenho Mais方便Do Mercado ParaAnáliseUlthar。oEspectrômontroCheckoCabe Sitecentsee Em Uma Bancada deLablatórioTradicionale包含Computamador Conferaldo Integlado。o desenho econstruçãorobustos tornam o instrumento理想的paraumlaboróriomóvel。o x-cite Xenemetrix Utiliza UM探测器De AltaResoluçãoe UM Poderoso Tubo de Raios x Com Tamanhos de PontosVariáveispara Acomodar Amostrasdeváriostamanhos。 O analisador fornece determinação qualitativa e quantitativa não destrutiva de C(6)-Fm(100). O resultado final é um produto excepcional, capaz de fornecer resultados analíticos poderosos hoje e no futuro. Esta abordagem é particularmente valiosa em aplicações onde quantidades limitadas de amostras estão disponíveis ou onde a integridade da amostra deve ser preservada para outros propósitos. A unidade inovadora tem um desempenho superior aos sistemas tradicionais sem os custos e dificuldades associados ao arrefecimento com nitrogénio líquido. Todas as capacidades de computação estão integradas no design do sistema para análise e transferência de dados abrangentes.