Interferômetro a laserSP 5000 NG

de calibração para aplicações OEM para medição de deslocamento subnanométrico

Interferómetro laser de nova geração Interferómetro laser para medições de comprimento que vão desde um nanómetro até alguns metros As crescentes exigências de precisão das máquinas de medição por coordenadas, máquinas-ferramentas e dispositivos de posicionamento com alcance de movimento superior a vários metros representam um desafio para os sistemas de medição no que diz respeito à sua aceitação e calibração. Neste contexto, os interferômetros laser de nova geração oferecem propriedades únicas que combinam uma grande faixa de medição de comprimento com uma resolução extraordinariamente alta. Ao utilizar o comprimento de onda dos lasers He-Ne como um padrão de medição estável a longo prazo, os sistemas de medição podem ser rastreados até padrões nacionais e, portanto, são ideais para calibrações e tarefas em metrologia. A base para os interferômetros é o conceito de feixe único da SIOS Meßtechnik GmbH, que combina uma excelente linearidade em toda a faixa de medição com uma calibração simples. O sistema básico da série SP-NG baseia-se no conceito comprovado do interferómetro laser compacto de feixe único da SIOS Meßtechnik GmbH. Estes interferómetros distinguem-se pelo facto de apenas um feixe de medição, que é reflectido pelo reflector de medição de volta para si mesmo, ser utilizado para a medição do comprimento interferométrico. Isto resulta em um ponto de detecção definido no objeto de medição. Portanto, é possível projetar a disposição metrológica para que o feixe laser esteja exatamente alinhado com o eixo de medição. Isto minimiza o erro Abbé que é uma fonte típica de erro em todas as medições de comprimento. Com um pequeno reflector que pode inclinar até ±12,5°, as configurações de medição podem ser rápida e facilmente calibradas.