O年代宽e嗯sistema dedicado一medir rapidamentegrandes áreas de amostra até 300 x 300 mm. Oferece todas as vantagens de um microscópio digital integrado em um instrumento de medição de alta resolução. Extremamente fácil de usar com a aquisição de um único botão. Sistema de Metrologia Óptica 3D de Grande Área - Fabricação avançada - Arqueologia e Paleontologia - Electrónica de consumo - Dispositivos médicos - Moldagem - Óptica - Indústria relojoeira Repetibilidade em altura sub-micron em toda a área estendida Medição da altura de um tiro até 40 mm sem varredura Z Lentes bi-telecêntricas com distorção de campo muito baixa, proporcionando uma metrologia precisa Desvio de forma dos modelos CAD 3D fornecendo a medição da diferença geométrica e da tolerância
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