Microscopio拉曼SPM / AFM

帕拉注意 共焦 nanoscopio

Você pode结合potência do inVia com microscópios de sonda de varredura (SPMs e AFMs) para study a composição, estructures e own materials is escalas nanométricas。我们的系统是é incrivelmente flexível;a Renishaw pode acoplá-la diretamente a uma ampla gama de AFMs e SPMs de必要的como: Superfícies Bruker Nano Nanônica NT-MDT JPK Parque Nanosurf Escolha o melhor SPM/AFM para as suas必要的。TERS: dispersão afm选择的拉曼系统(TERS)。Esta técnica empolgante utiliza uma ponta plasmônica afiada para informações químicas na escala nanométrica。a mapeamento TERS补充流线™e StreamHR™，dando-lhe a flexibilidade para estudar as suas amostras com a resolução que desejar。Máxima eficiência O braço可编程flexível特别的项目是通过SPM/ afm对光学系统进行积分。我可以告诉你我的名字eficiência我可以告诉你我的名字óptica。Você我们的光谱非常快，e com maior sinal-para-ruído。哦，alhammento é fácil。 Todos os sistemas combinados oferecem um vídeo embutido com iluminação de luz branca para que você possa ver claramente tanto a ponta da sonda como o ponto de laser Raman - crítico para o trabalho conjunto da TERS. Mesmo local, mesmo tempo Você pode ter confiança nos seus dados. Você pode adquirir simultaneamente dados Raman e AFM do mesmo ponto da amostra sem ter que movê-los. Isto assegura que os seus dados sejam consistentes, mesmo que a sua amostra esteja a mudar com o tempo. Um sistema combinado A análise é co-localizada; não é necessário mover a amostra entre sistemas e depois caçar laboriosamente para encontrar o mesmo ponto de interesse.