CARACTERÍSTICASJEM-F200é嗯从头microscópioeletrônico德transmissão德emissõesde Campo酒店,阙apresenta MAIORresoluçãoespacialēdesempenhoanalítico,嗯诺SISTEMA DEoperação卸妆水德城市搜救第operaçãomultiuso,UMAaparênciaINTELIGENTEËVARIOS SISTEMASamigáveisAO韦AMBIENTEË德economia德ENERGIA。Desenho INTELIGENTEØJEM-F200 TEM UMA新星,电子贝拉aparência。Incorpora UMA新星Ëintuitiva接口德utilizador,especificamente concebida对microscopia电子乐analítica。Tambémapresenta EXCELENTE estabilidade MECANICAëelétrica,邻阙reflete一个experiência德ENGENHARIA哒JEOL acumulada AO LONGO DOS ANOS。维拉克鲁扎condensador四镜头甲microscopia ELETRONICA atual requerösuporte一个UMA萁加马德TÉCNICAS德IMAGEM,desde TEM DE坎普brilhante /坎普escuro ATE STEM阙utiliza UMA variedade德detectores。一个JEM-F200,玉米SEU诺SISTEMA视神经德4estágios德formação德sondas,欧seja,四透镜聚光系统,controla一个intensidadeêØ安古洛德convergência做feixe德elétrons去备考Independente酒店,对响应AOS diferentes requisitos德pesquisa。SISTEMA DE扫描AvançadoØJEM-F200 incorpora嗯从头SISTEMA DEdigitalização,邻先进的扫描系统,阙écapaz德digitalizarØfeixe德elétrons号SISTEMAS formadores德IMAGEM达雄达。这一领域的空白realiza嗯amplo坎普STEM-EELS。微微级驱动器A JEM-F200 utiliza庵微微级驱动,阙écapaz德conduzirØ帕尔科EM帕苏德200微微米SEM嗯压电驱动,电子movendo一个区域去visãoCOM UMA萁加马dinâmica,desde UMA grelha德amostra inteira ATE imagens de ordem atómica. SPECPORTER (dispositivo de carga/descarga do suporte automático) O carregamento/descarregamento de um suporte de amostras foi considerado um erro humano de operação, especialmente para os iniciantes.
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