- Metrologia - Laboratório.
- Equipamentos delaboratório.
- microscópioeletrônico.
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
- 生产蛋白质
- Catálogos.
microscópioeletrônicodetransmistãoe varreduraSU9000
ParaAnálises.
para pesquisa.
BF-step.
Guardar Nos Phalititos.
比较
características.
- 蒂诺
- Eletrônicodetransmistãoe Varredura
- aplicaçõestécnicas.
- ParaAnálises，Para Pesquisa
- Técnicadeimangageação.
- BF-STEM，DF-茎
- configuração.
- 德比索
- Fonte deEleétrons.
- DeEmissãodeCampoFrio
- Tipo de探测器
- DeElétronsretroespalhados，deElétronssecundários
- outrascaracterísticas
- De AltaDeforução，达阿尔塔·塞尔萨斯，Para Amostras Planas，Para Symondutor，Para Amostras Polidas，Para Topografia，Para Nanotecnologia，ParaIndectififueaçãodeamianto，Para·威尔科（ParaAplicaçõesEMMicro-Imagens），De Ultra-AltaDescução
- 解决方法
-
0,4nm，0,8 nm，1,2 nm
- Ampliação.
-
3.000.000单位
Descrição.
O SU9000 Combina MicroscopiaEletrónicade Varrimento（SEM）Com MicroscopiaEletrónicade baixaTensão（Stew）Numúnico乐器。A Mais AltaDescuçãoem se，bse，bf-stem ou df-stem combinada comu detetor eds de alto qualosólidoeepectroscopiade perda de Energia deElétron（eels）Opcional comcâmaradedifração。
Outros Produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH
电子显微镜（SEM / TEM / Stew）
Pesquisas Relacionadas.
- microscópio.
- microscópiodelaboratório.
- microscópiode bancada.
- microscópiocomcâmera数字
- microscópioparaanálises.
- microscópioparaInspeção.
- microscópiode campo claro
- microscópiodemedição.
- microscópiode altadescução
- microscópiocapacho.
- Microscópio工业
- microscópiometalúrgico
- microscópioautomático.
- microscópiopara pesquisa.
- microscópiopara a pesquisa sobre materiamis
- Sistema dePrictaçãodemostras
- microscópioem campo escuro
- microscópiohaparalar
- microscópioergonômico
- microscópio3d
*osProçosnãoPrentuemImpostos，Transporte，TaxasAlfandegárias，NEM Custos AdicionaisAssociasdosàsopçõesdeiveralaçãoedeAtivaçãodoserviço。OS预卜SãoMeramente指示灯Expativos E Podem Variar EmFunçãodosPoyses，Do Custo DasMatérias-Primas E DAS Taxas deCâmbio。