测量接触探针XDT

扫描

由于独特的技术功能组合，ZEISS XDT多点传感器实现了广泛的应用，并在所有探测方向提供高精度。在许多情况下，用户需要关节探头支架的灵活性。ZEISS XDT取代了触控式传感器，提高了操作的安全性和测量的准确性。与触控式单点测量不同，滑动采集测点的单点扫描提供了具有最大精度和可靠性的结果。单点扫描测量时，测量点约为80个。离群值不再重要，相当高的精度是有保证的。