测量接触探针REVO SFP2
扫描
CMM
触发
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这种产品比较
特征
- 类型
- 测量
- 技术
- 扫描
- 应用程序
- CMM
- 其他特征
- 触发、高速
- 测量范围
-
1毫米(0.0394英寸)
描述
REVO®SFP2使表面光洁度检查成为您的三坐标测量程序不可分割的一部分。表面光洁度/表面粗糙度测量表面光洁度测量传统上涉及使用手持传感器，或者需要将零件移动到专用的测量机器上。REVO多传感器系统改变了这一切，使表面光洁度检测成为CMM测量不可分割的一部分，并使您能够在扫描和表面光洁度测量之间切换。这种独特的能力允许表面光洁度分析完全集成到一个单一的测量报告。采用5轴测量技术，SFP2的自动表面粗糙度检测显著节省了时间，减少了零件处理，并增加了CMM投资的回报。表面光洁度/表面粗糙度测量表面光洁度测量传统上涉及使用手持传感器，或者需要将零件移动到专用的测量机器上。REVO多传感器系统改变了这一切，使表面光洁度检测成为CMM测量不可分割的一部分，并使您能够在扫描和表面光洁度测量之间切换。这种独特的能力允许表面光洁度分析完全集成到一个单一的测量报告。采用5轴测量技术，SFP2的自动表面粗糙度检测显著节省了时间，减少了零件处理，并增加了CMM投资的回报。SFP2计量发动机座SFP2系统-特点和优点
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