微米尺寸测量仪045 - 200217
对显微镜
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特征
- 应用程序
- 用于微米尺度的测量，用于显微镜
描述
与目标Micro V1相比，第四象限具有珩磨角的校准目标Micro包含一个30°的珩磨角，包括证书。目标包含以下定义的结构:10 lp/mm至1000 lp/mmØ20 μm点阵40x40点，100 μm网格正负点和西门子星4。珩磨角30°，认证证书5。尺度与步骤高达10 μm
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