动态光散射纳米颗粒尺寸分析仪NANOTRAC FLEX

光学 质量控制 现场

NANOTRAC FLEX原位粒度分析仪提供了从0.3纳米到10微米尺寸范围内的快速和准确的分析能力。NANOTRAC FLEX由Microtrac MRB的增强动态光散射技术提供动力，非常适合在大浓度范围内测量粒子，使用最小的样品体积。适当的命名，外部探针提供了灵活性，可在原位或实验室平台上测量从亚纳米到几微米的悬浮。基于180°外差动态光散射，NANOTRAC FLEX可以测量高达40% w/v的材料浓度(依赖于样品)。通过这种设置，一部分激光束被添加到散射光中，这就像光学增强。除了粒径，分子量(根据德拜)也可以测量，而无需手动添加所需的dn/dc值。浸入式探头可以通过现场分析进行直接测量。这样做的优点是不需要试管，直接测量产品和现场选择。经过10到100秒的测量时间，结果就准备好了，如折射率，粒子吸收和粘度等参数可以在数据库中获得。通过使用专有的mie计算，用户可以测量透明或吸光样品以及球形、非球形和不规则颗粒。 The probe as the catalyst for Microtrac MRB’s Reference Beating, an enhancement to traditional DLS, increases the optical signal back to the detector anywhere from 100 to 1,000,000 times more than systems that use “self-beating.”