薄膜测厚仪FTS系列
电容

薄膜测厚仪
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特征

应用程序
电影、箔
技术
电容
测量范围

马克斯。30.5µm (0.24 in)

最小值。30µm

描述

FTS是由Micro-Epsilon公司生产的一系列测量仪器。它提供了高稳定性和准确性,当用于测量厚度的平面薄膜挤出生产线。该装置确保了额外的质量与低消耗的原材料。它基于零排放测量技术,具有自适应的遍历速度。该仪器可以很容易地适应生产线,并提供可定制的接口。FTS薄膜厚度为300µm ~ 6mm,最大宽度为3000mm。最大进给速度14m/min。

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*价格是税前。它们不包括运费和关税,也不包括安装或激活选项的额外费用。价格只是指示性的,可能因国家而异,原材料成本和汇率会有所变化。