光学检测系统reflectCONTROL紧凑

为反射面

在反射表面上，传统的图像处理系统受到了限制。来自Micro-Epsilon的reflectCONTROL Compact是专门为这些类型的表面开发的。在许多领域，对表面质量和外观的要求越来越高。因此，智能手机的触摸屏、仪表和汽车的控制装置必须没有损坏。这些零件的检查通常是通过目视检查进行的，这意味着在很多情况下结果是不清楚的。检查人员当天的疲劳或情绪会导致检查结果的波动。特别是反射表面给人工和自动表面检测带来了挑战。reflectCONTROL Compact是专门为这些类型的表面设计的，记录结果以实现客观的比较。然后可以为过程改进做出重要的结论。完全集成的系统有两个版本，每个版本提供不同的测量领域。 The 2D version recognises defects on reflecting surfaces. In addition, the 3D version allows for the measurement of reflecting surfaces at submicrometer accuracies. This device is also used in individual operations (e.g. laboratories) as well as directly in production lines.