粗糙度测量系统

角 校准 自动

该系统用于二维全角度反射测量，包括样品的表面分析或薄膜的镜面反射，提高了对多角度散射及其波长依赖性的自动测量能力。该系统还可应用于表面反射率测量、表面粗糙度、膜厚分析等方面。通过旋转平台的设计扩展三维全角度反射和漫反射测量系统或反射、透射、吸收系统，通常应用于半导体、2D或30材料、光电导体、太阳能、LED、面板等。涂料及相关行业。特征-可测量的光谱范围:380 ~ 1100纳米,280 ~ 1050纳米,900~1600nm。自动校准功能。程序控制单入射和反射角的反射率测量。程序控制单入射和反射角范围的反射率扫描测量。程序控制特定入射和反射角范围的反射率扫描测量分析反射/扩散比率测量波长的依赖——导电膜厚度计算单层-数据库记录历史跟踪系统可以扩展测量传输和吸光度与旋转平台——测量3 d full-angle反射和漫反射曲线中的应用other field: - Spectrum measurement of meta-material sample under different polarization - Spectrum measurement of the angle dependence on anisotropy film or crystalline sample