显微维氏硬度计AMH55系列

宏观维氏 通用 努普/维氏

使用LECO新的AMH55自动微/宏压痕硬度测试系统，最大限度地提高您的生产力，并轻松测量各种表面条件下的压痕，适用于广泛的应用。AMH55是许多苛刻的应用，如案例深度分析的理想选择;涂层硬度;表面分析;金属粉;焊缝;紧固件;脱碳和其他很多问题。支持准确和高效的微压痕和宏/维氏硬度测试全自动，半自动，和lite配置，AMH55是一个有价值的资源，为用户需要精确和高效的硬度测试，同时剪裁数据和结果，以满足他们的需求。•同时自动对齐和自动parfocal工具•自动像素校准和阴影校正•自动z轴和自动对焦功能•多功能数据报告; customized spreadsheet generation tools • Optional Advanced Analysis Module for color contoured mapping