Jenoptik专门为自动化设计了Opticline CA、AMV和WMS系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口,它们可以灵活无缝地集成到您的自动化生产流程中。我们的系统提供高精度和可靠性的测量结果,即使在恶劣的生产环境中长期运行后也是如此。轴测量系统的测量周期令人印象深刻,仅为秒。这意味着您可以有效地监控生产,并减少浪费。系统有多种设计,因此可以水平或垂直加载。我们还为特别大和重型轴提供特殊测量系统。如有必要,我们可以根据您的具体要求定制我们的系统。我们的测量和评估软件提供了全面的功能和额外的校正值控制选项,可以轻松地集成到制造过程中。该程序易于理解和操作。优点精确快速:测量精度高;操作员对结果没有影响。测量系统可以集成到加工过程中。符合人体工程学且安全:可实现自动装载;即使是很重的工件也很容易处理。坚固耐用,几乎无磨损:优化用于生产。高效:减少浪费和材料消耗。客户特定:可能的水平和垂直系统设计,项目特定的外壳和外壳,可根据您的工件和测量任务定制的系统。易于理解的操作软件:最低的培训要求和直观的操作