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薄片显微镜MPS150
光学
表面检查
双筒望远镜
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这种产品比较
特征
- 类型
- 光学
- 技术的应用
- 表面检查
- 显微镜的头
- 双筒望远镜
- 配置
- 台式
- 选项和配件
- 用显微操纵器
- 其他特征
- 模块化,晶片
- 决议
-
5µm
描述
定制您的150毫米探针台基于灵活的模块在一个令人难以置信的价格!形状因子引入了一个新的模块化概念的最佳150毫米探针。这将使它更容易配置你的个人调查解决当前和未来的需要以令人难以置信的价格。简单地选择一个基站和添加你需要尽可能多的特定于应用程序的起动器套件。哄——直流参数测试下来pA水平•动滚筒与40毫米高度调整,200年μm接触/分离中风和±1μm重复性•查克阶段调整摩擦&阶段锁,独特的Z查克调整和90毫米撤军•磁性定位器与1μm特性分辨率和3线性轴精密球轴承屏遮——低噪声测量fA水平•立体显微镜:15 - 100 x放大和大视场c-mount•屏遮探针上手臂和高质量的光屏遮电缆•/ EMI屏蔽(可选)fF-level测量••升级选择屏遮查克±8好θ卡盘旋转,三辅地区,卡盘表面±5μm平面化的一致的接触力和超程•东/西向北/南测量单个设置射频测试67 GHz•三个探针技术:无穷探针,ACP探测器,Z | |探针•匹配的电缆和基质包括射频查克•±200μmμm表面平面化•独特的滚筒接触/分离中风≤±1μm精度可重复接触•WinCal XE校准软件
