EXFO的Compact CT440可让您快速准确地测试无源光学组件(例如,MUX / DEMUX,滤光器,分离器)和模块(ROADM,WSS)。更重要的是,该单元涵盖从1240到1680nm的光谱范围,允许在全电信频带上测量。使用PDL选项,CT440可以同时测量插入损耗和偏振依赖性损耗。全带扫描CT440(SMF型号)可以在1240和1680nm之间运行,并与Exfo的T100S-HP系列可调激光器完全兼容。当使用多个TLS时,CT440可以自动在激光器之间切换,以允许无缝的全带测量。与DUT的单一连接意味着不需要外部开关。快速插入损耗测量CT440具有高速电子和光学干涉法的独特组合。四个集成探测器可让您同时测量四个通道,在单个激光扫描中使用65 dB动态范围。此外,在任何扫描速度下实现±5 PM波长精度,因此测量速度与精度之间没有折衷。